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2025

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半导体热处理挑战与RTP解决方案

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【概要描述】

 

在半导体产业飞速发展的当下,晶圆制造作为核心环节,每一道工艺都对最终产品的性能与质量起着决定性作用。其中,退火工艺犹如 “魔法师”,在晶圆制造流程中承担着多项不可或缺的关键功能退火工艺质量直接影响最终芯片的性能与良率具体体现在以下四个核心功能上:

 

  1. 应力释放: 晶圆经历离子注入、刻蚀、金属沉积等工艺会引入内部应力。退火通过加热促使晶格重组,有效释放应力,防止后续加工或使用中发生断裂或变形。
  2. 晶格修复: 离子注入过程会破坏晶格结构,产生缺陷。退火能促使原子重排归位,修复损伤,恢复材料的电学特性。
  3. 掺杂激活: 注入的掺杂原子需要退火过程驱动其迁移至晶格正确位置并被激活,从而改变半导体的电学性能。
  4. 性能优化: 退火可显著改善材料的电学性能(如降低电阻率、提升载流子迁移率)和机械性能,增强晶圆的耐用性。

 

尽管退火工艺至关重要,但长期以来广泛应用的传统炉管退火工艺,在满足现代晶圆制造对高精度、高效率和高质量的要求方面,逐渐暴露出诸多显著局限,成为制约半导体产业进一步发展的瓶颈。

 

传统炉管设备

 

  • 缺陷消除不完全;
  • 退火时间过长,易导致杂质再分布;
  • 温场均匀性控制困难。

这些限制促使业界亟需一种兼具精准温度控制与高效退火能力的新型解决方案。 

 

RTP高效热处理革新者

快速热退火(RTP)技术采用高功率灯管或激光等瞬时高能热源,可在极短时间内(秒级甚至毫秒级)将晶圆迅速加热至目标温度,完成退火或扩散过程后急速冷却。RTP将传统耗时数分钟乃至数小时的“热处理”过程压缩至极短时间,实现晶圆在高温与低温之间的“急速切换”。其快速升温和短暂驻留的特点,能有效修复晶格缺陷、激活掺杂杂质,从而优化离子注入后的电学性能。

 

典型的 RTP 过程分为三个阶段:升温、恒温、冷却

升温阶段

过程:高功率灯管阵列(或激光等其他热源)瞬间开启,通过辐射加热的方式,在数秒内将晶圆表面从室温迅速提升到目标退火温度(通常为400至1300)。此阶段的核心是升温速率极快,可达每秒数十摄氏度到数百摄氏度,从而有效抑制了杂质在高温下的纵深扩散。

 

目的:实现“热冲击”,使晶圆快速进入反应温度窗口,避免长时间升温过程中不必要的杂质扩散和缺陷再生。

 

恒温阶段

过程:当温度达到预设目标值后,系统通过精密的闭环温度控制系统(如使用红外测温仪实时监控)动态调节热源功率,使晶圆温度在一个非常窄的波动范围内保持稳定。这个驻留时间非常短暂,通常仅为几秒甚至毫秒级。

目的:在此短暂的高温平台上,为晶格缺陷的修复、注入杂质的电活性激活提供必要的能量和时间,同时利用其短暂性极力限制杂质的热预算。

 

冷却阶段

过程:恒温阶段结束后,热源被瞬间关闭或大幅降低功率。同时,反应腔室配有冷却系统(如冷壁、充入惰性冷却气体等),通过对流和辐射帮助晶圆快速降温。

目的:将晶圆“冻结”在恒温阶段完成后的理想状态,防止在缓慢冷却过程中发生杂质再分布、缺陷重新生成或形成不希望的二次相。

 

尽管RTP技术优势显著,但在实际生产和研发中仍面临一系列严峻的技术瓶颈和挑战:

 

温度控制与测量的精度挑战

热点与均匀性问题:由于是辐射加热,晶圆边缘的热损耗更快,图案化晶圆不同材料的吸热率也不同,极易导致晶圆表面产生温度梯度,形成“热点”或“冷点”。这种热均匀性的微小差异(可能仅5-10°C)会直接造成器件性能的批次内不均匀和良率下降。

测温精度:非接触式的红外测温易受到晶圆背面薄膜状态、发射率变化以及腔内环境辐射的干扰,导致真实温度与测量温度存在偏差,影响工艺的重复性和可靠性。

 

热应力导致的晶圆缺陷

极快的升温和冷却速率会在晶圆内部产生巨大的热应力。对于大尺寸晶圆(如300mm)或超薄晶圆,这种应力可能导致晶圆翘曲、滑移位错,甚至在极端情况下破裂。

 

热预算与杂质量子隧穿效应的矛盾

随着半导体器件特征尺寸进入纳米级(如7nm、5nm及以下),结深要求极浅。虽然RTP的热预算已经很低,但进一步抑制杂质在超浅结中的瞬态增强扩散仍然是一个巨大挑战。在极短的高温过程中,杂质原子仍可能发生不可忽视的扩散,影响器件的最终性能。

 

吞吐量与成本问题

虽然单次RTP处理时间极短,但通常其为单片处理设备,相比于传统批处理式退火炉(一次处理上百片),在量产时的吞吐量可能成为瓶颈。高功率灯管和精密控制系统的成本也较高。

 

ETA-Semitech®RTP快速热处理系统

 

 

ETA-Semitech ES700

 

为满足半导体市场对先进退火工艺的迫切需求,一塔半导体依托多年技术积累和行业经验,自主研发推出ETA-Semitech ES700 RTP全自动双腔快速退火系统。该系统具备高可靠性、高效率、高精准、灵活兼容、耐久性高、维护成本低等显著优势,可广泛应用于快速热退火(RTA)、快速热氧化(RTO)、快速热氮化(RTN)、高温退火(去应力)、高温扩散、金属硅化物形成及合金化等多种工艺场景,为先进半导体制造提供可靠的热处理解决方案,推动半导体产业的持续发展!

 

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