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2025
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半导体热处理工艺之扩散
所属分类:
【概要描述】
在半导体芯片的精密制造流程中,热处理技术是贯穿始终的核心工艺环节,其本质是通过精准控制温度场与处理时间,调控半导体材料的晶体结构、杂质分布及界面特性,为器件性能奠定基础。离子注入、氧化、扩散等关键工艺,均需依赖热处理修复材料缺陷、激活功能原子或优化界面结合,直接影响芯片的电学性能、可靠性与良率。今天,我们一起聊聊热处理工艺中的扩散。
1952年,Pfann提出利用扩散技术改变硅导电类型的方法。在高温条件下,利用热扩散原理将杂质元素按工艺要求掺入硅衬底中,使其具有特定的浓度分布,达到改变材料的电学特性,形成半导体器件结构的目的。
扩散的工艺机理
- 替位式杂质替换:杂质原子位于晶格位点上,与硅原子发生位置交换。

落在晶格位置上的杂质,在晶格位置势能相对最低,间隙处是势能最高位置。所需能量少,更易发生。
(2)填隙式杂质扩散:杂质原子在晶格中硅原子的间隙之间移动。

存在于晶格间隙的杂质,以间隙形式存在于硅中的杂质,主要是半径较小,不容易和硅原子键合的原子。
只要浓度梯度未达到平衡,或温度未降低至原子无法移动的程度,掺杂剂就会持续扩散。扩散过程的速率取决于多个因素:
1.掺杂剂类型
2.浓度梯度
3.温度
4.衬底
5.衬底的晶体取向
扩散工艺的分类
(1)固态扩散
将含有所需掺杂剂的源片置于晶圆之间。当石英管内温度升高时,源片中的掺杂剂会扩散到管内气氛中,在载气的作用下均匀分布,最终抵达晶圆表面并完成掺杂。
常用的固态源头有B源(BN化学性质稳定) ,P源 (NH4H2PO4 )
固态源扩散优点在于重复性、稳定性较液态源好,缺点则是源存储易受潮,需提前活化处理
(2)液态源扩散
使载气通过液相源,将掺杂剂以气态形式携带至石英管内与晶圆接触。为避免晶圆产生应力甚至破裂,石英管需逐步升温(例如每分钟升温 10℃)至 900℃,之后再向管内通入掺杂剂;随后继续升温至 1200℃,启动扩散过程。
常用液态源头有B源(溴化硼BBr₃)、P源(三氯氧磷POCl₃)
优点:系统简单,操作方便,成本低,效率高,重复性好,均匀性好;缺点:腐蚀性高,起泡器加压(易炸),对温度灵敏
(3)气态源扩散
向载气(如氮气、氩气等)中通入目标掺杂剂(同样为气态,例如磷化氢 PH₃或乙硼烷 B₂H₆),随后将混合气体导入石英管并接触硅晶圆,晶圆表面与气体间会发生浓度平衡,实现掺杂。常用掺杂源:PH3、B2H6 、AsH3、SbH3
优点:
a)比液态源扩散更方便
b)气态源多为氢化物或氯化物杂质,毒性大,易燃易爆
扩散的工艺特点

扩散工艺步骤
1,可同时处理多片晶圆,工艺效率较高;
2,若硅晶体中已存在掺杂剂,后续高温工艺可能导致其发生 “外扩散”(diffuse out);
3,掺杂剂可能沉积在石英管内壁,后续工艺中可能再次迁移至晶圆表面造成污染;
4,晶体中的掺杂剂不仅会沿垂直于晶圆表面的方向扩散,还会发生横向扩散,导致掺杂区域非预期扩大
扩散的工艺设备
扩散设备主要是立式炉和卧式炉,传统扩散设备主要是卧式扩散炉,也有少量的立式扩散炉。
立式炉其加热炉体、反应管及承载晶圆的石英舟均采用垂直布局设计。其控制系统主要由工艺腔(炉管)、硅片传输系统、气体分配系统、尾气处理系统和温控系统五部分构成。

卧式炉的石英管水平放置,用于放置和加热硅片。其主要控制系统与立式炉相同,也分为炉管、硅片传输系统、气体分配系统、尾气系统和控制系统五部分。
常见的卧式扩散炉的主要技术指标为:
- 工作温度范围为600~1300℃;
- 恒温区长度为600~1100mm;
- 恒温区精度为±0. 5℃;
- 最大可控升温速率不小于15℃/min;
- 最大可控降温速率不小于5℃/min。
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